Перечень методов испытаний
АСМ – атомно-силовая микроскопия
АСМ-ФК - атомно-силовая микроскопия в режиме фазового контраста
РЭМ – растровая электронная микроскопия,
ПЭМ – просвечивающая электронная микроскопия,
ДРС –динамическое рассеяние света. (dynamic light scattering (DLS) )
НДРС – неполяризованное динамическое рассеяние света (de-polarized dynamic light scattering (DDLS))
РС - Рамановская спектроскопия низкочастотных радиальных мод (the low-frequency radial breathing modes (RBMs))
ТГА - Термогравиметрия (TGA)
ГХ – газовая хроматография (Evolved Gas Analysis-Gas Chromatograph Mass Spectrometry (EGA-GCMS))
РСА – рентгеноструктурный анализ (XRD; X-ray diffractometer)
РФА – рентгенофазовыйый анализ (XRD; X-ray diffractometer)
РСА-УЛ – уширение линий рентгеновской дифракции (x-ray diffraction line broadening (XRDLB))
РФ - рентгеновский флуоресцентный анализ (XRF; X-ray fluorescence analysis)
ИК-ФЛС – фотолюминесцентная спектроскопия (NIR-Photoluminescence (NIR-PL) spectroscopy)
УФ-ИК спектроскопия поглощения (UV-vis-NIR absorption spectroscopy)
ЭДРА – энерго-дисперсионный рентгеновский анализ (Energy Dispersive X-ray Analysis (EDX))
РФЭС – рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (x-ray photoelectron spectroscopy (XPS))
ФП – фотопроводимость (photoconductivity)
МУРР - Малоугловое рентгеновское рассеяние (small angle x-ray scattering (SAXS))
МУРРСИ - Малоугловое рентгеновское рассеяние синхротронного излучения (synchrotron radiation small angle x-ray scattering (SRSAXS))
Фурье-ИК – Фурье ИК спектроскопия (fourier transform infrared spectroscopy (FTIR))
ОЭС - Оже электронная спектроскопия (Auger electron spectroscopy (AES))
ВИМС – вторичная ионная масс-спектрометрия (secondary-ion mass spectrometry (SIMS))
ФЛ – Фотолюминесценция
КЛ – катодолюминесценция
МУНР – малоугловое нейтронное рассеяние (small angle neutron scattering (SANS))
Метод BET - Адсорбционный метод определения удельной площади поверхности BET analysis
СКР –спектроскопия корреляционного рассеяния (Methods for determination of particle size distribution – Photon correlation spectroscopy)
Индентирование HV - индентирование для определения микротвердости HV
Индентирование K1C - индентирование для определения трещинностойкости K1C
Индентирование Е - индентирование для определения упругого модуля Е
Метод равновесного угла для определения текучести порошков.
Взвешивание стандартного объема для определения насыпной плотности.
Гидростатическое взвешивание – метод определения кажущейся плотности материала.
Фотометрия проходящего света – определение доли прошедшего света по отношению падающему путем измерения светового потока.
Метод визуального сравнения цвета объекта с образцами для определения цвета.
Метод ζ-потенциала – определение полярности и профиля потенциала в сравнении с потенциалом эталона.
Вискозиметрия – определение вязкости жидкости (суспензии) по ее текучести.
Метод pH – определение уровня кислотности жидкости.
Адсорбционная порометрия – по методу BET для размеров пор менее 500 нм
Ртутная порометрия.
Испытания на разрыв стандартного образца для определения прочности и пластичности материала.
Испытания на разрыв при повышенных температурах позволяют определить пределы термической стабильности механических свойств материала.
Испытания на изгиб стандартного образца для определения прочности на изгиб хрупкого материала.
Испытания на изгиб при повышенных температурах позволяют определить пределы термической стабильности механических свойств хрупкого материала.
Испытания пар трения под нагрузкой - по схеме вал-втулка или палец-плоскость.
4-контактный метод – измерения электропроводности по падению напряжения между парой потенциальных контактов при пропусканию тока через пару внешних токовых контактов.
Магнитометрия – метод измерения магнитных параметров материалов.
Импедансная спектроскопия – метод комплексного исследования проводимости материалов и структур в широком диапазоне частот и значений проводимости.
Электрические испытания – испытания стандартных образцов материала на пробой высоким электрическим полем.
Адгезионные испытания – измерения силы адгезионного сцепления покрытия и подложки путем приложения контролируемого разрывающего усилия.
Измерения ВАХ – методом импедансной спектроскопии.
Измерение энергии светового потока, излучаемого структурой.
Фотометрия – измерение интегрального светового потока с единицы площади структуры.
Фотометрия пространственная - измерение светового потока с единицы площади структуры в различных направлениях.
Спектрофотометрия – измерение спектрального состава излучения структуры.
Испытание на газо- проницаемость мембран состоит в определении возможных газовых потоков через мембрану, нагруженную перепадом давления газа.
Ресурсные испытания и испытания под рабочей нагрузкой ЭЭНС.
Приложение Б
(рекомендуемое)
Рекомендуемый перечень
методик исследования наноматериалов и наноструктур
1. Пространственные характеристики наноматериалов и
наноструктур
Растровая электронная микроскопия (РЭМ) высокого разрешения.
-
Получение изображений методом РЭМ образцов наноразмерных объектов (проводящих и непроводящих): наночастиц (нанопорошков), наностержней, нановолокон, нанотрубок, нанопроволок, нанодисков – с пространственным разрешением до 1 нм. Анализ изображений с получением численных данных о размерах и форме нанообъектов, степени их агломерируемости. Применение методов препарирования образцов, искажающих размеры и форму нанообъектов, не допускается.
Получение изображений методом РЭМ структуры объема и поверхности образцов наноструктурных материалов (проводящих и непроводящих), в том числе нанокомпозитов с пространственным разрешением до 1 нм. Анализ изображений с получением численных данных о размерах и форме нанокристаллитов (гранул), пор, межкристаллитных границ и других особенностей структуры. Применение методов препарирования образцов, искажающих наноразмерную структуру, не допускается.
Получение изображений методом РЭМ структуры поперечных сечений и поверхностей образцов тонкослойных наноструктурных объектов (проводящих и непроводящих), в том числе тонких пленок, покрытий, наночипов и электролит-электродных структур, с пространственным разрешением до 1 нм. Анализ изображений с получением численных данных о размерах слоев, о размерах и форме нанокристаллитов (гранул), пор, межкристаллитных границ, межслоевых интерфейсов и других особенностей структуры. Применение методов препарирования образцов, искажающих наноразмерную структуру, не допускается.
Методики поверки и меры поверки растровых электронных измерительных микроскопов.
-
Просвечивающая электронная микроскопия ПЭМ высокого разрешения.
Получение изображений методом ПЭМ образцов наноразмерных объектов: наночастиц (нанопорошков), наностержней, нановолокон, нанотрубок, нанопроволок, нанодисков – с пространственным разрешением до 0,2 нм. Анализ изображений с получением численных данных о размерах и форме нанообъектов, степени их агломерируемости и распределении по размерам.
Получение изображений методом ПЭМ структуры образцов наноструктурных материалов с пространственным разрешением до 0,2 нм. Анализ изображений с получением численных данных о размерах и форме нанокристаллитов (гранул), пор, межкристаллитных границ и других особенностей структуры. Применение методов препарирования образцов объемных наноматериалов для ПЭМ.
Получение изображений методом ПЭМ структуры поперечных сечений и поверхностей образцов тонкослойных наноструктурных объектов (проводящих и непроводящих), в том числе тонких пленок, покрытий, наночипов и электролит-электродных структур, с пространственным разрешением до 0,2 нм. Анализ изображений с получением численных данных о размерах слоев, о размерах и форме нанокристаллитов (гранул), пор, межкристаллитных границ, межслоевых
интерфейсов и других особенностей структуры. Применение методов препарирования тонкослойных наноструктурных объектов для ПЭМ.
Методики поверки и меры поверки просвечивающих электронных измерительных микроскопов.
-
Методики сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ) для исследования наноструктурных объектов и материалов с нанометровым разрешением в различных режимах. Применение методов препарирования наноструктурных материалов и объектов для СЗМ.
Получение изображений в контактном, полуконтактном и бесконтактном режимах атомно силовой микроскопией.
Получение изображений в режиме фазового контраста.
Получение изображений в режиме магнитных или элекутрических сил.
Получение изображений в режиме электрохимического зондового микроскопа.
Получение изображений в режиме туннельного микроскопа.
Методики определения толщины тонких слоев покрытий и гетероструктур в диапазоне 1 - 100 нм с использованием сканирующего зондового микроскопа.
Методики поверки и меры поверки сканирующих зондовых измерительных микроскопов.
Методики оптической сканирующей микроскопии, в том числе ближнего поля, с пространственным разрешением порядка 10 нм в видимом спектральном диапазоне.
Методика определения распределения частиц по размерам с использованием эффекта динамического рассеяния света.
Методика определения средних размеров кристаллитов (областей когерентного рассеяния) различных фаз нанокристаллических материалов по уширению линий рентгеновской дифракции.
Определение размеров и морфологии наноразмерных объектов с использованием методик малоуглового рентгеновского рассеяния, в том числе синхротронного излучения.
Методика седиментационного анализа для исследования гранулометрического состава наноразмерных порошков.
2. Элементный и фазовый состав наноматериалов
Методики рентгенофазового и рентгеноструктурного анализа для определения качественного и количественного фазового состава наноразмерных объектов и наноструктурных материалов, в том числе для определения составов in situ, в условиях высоких температур.
Методики энергодисперсионного рентгеновского анализа и дифракции обратно рассеянных электронов для исследования изображений наноматериалов в растровом или просвечивающем электронных микроскопах, обеспечивающие разрешение порядка 10 нм при определении пространственного распределения химических элементов.
Методики послойного элементного анализа поверхностных слоев наноматериалов и наноструктур методом вторичной ионной масс-спектрометрия.
Методики количественного элементного анализа наноматериалов различными методами ионной масс-спектрометрия.
Определение количественного элементного состава наноматериалов с использованием методики рентгеновский флуоресцентного анализа.
Определение количественного элементного состава наноматериалов с использованием методики эмиссионного спектрального анализа.
Методика газовой хромато масс-спектрометрии для определения качественного и количественного состава адсорбатов в наноразмерных объектах.
ЯМР –методики для определения химического состава и строения наноструктурных объектов.
3. Структура и характеристики поверхности
Методики оже электронной спектроскопии для определения химического состава и типа химических связей на поверхности наноразмерных объектов.
Методики рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (РФЭС) и ультрафиолетовой фотоэлектронной спектроскопии (УФЭС) для определения химического состава, типа химических связей и электронной структуры поверхности наноразмерных объектов.
Методики Фурье ИК спектроскопии, рамановской спектроскопии, ИК фотолюминесцентной спектроскопии, УФ-ИК спектроскопия поглощения для определения типов связей и типов структур на поверхности наноразмерных объектов, в частности, углеродных наноматериалов.
Методика определения удельной поверхности наноразмерных объектов BET -анализом.
Методики определения шероховатости поверхности наноматериалов и изделий с нанометровой погрешностью с использованием сканирующей зондовой микроскопии и интерференционной оптической микроскопии.
Оптические и спектральные свойства наноматериалов.
Методика определения и анализа спектров фотолюминесценции (ФЛ) наноразмерных материалов и наноструктур.
Методика определения и анализа спектров катодолюминесценции (КЛ) наноразмерных материалов и наноструктур.
Методика измерения спектрального состава излучения структуры - спектрофотометрия.
Методика измерения светового потока с единицы площади структуры в различных направлениях – пространственная интегральная и спектральная фотометрия.
Методики определения и анализа спектров отражения и пропукания наноструктур в видимой, ближней и дальней ИК и УФ областях.
Методика измерения температурных зависимостей (в диапазоне температур 2 -300 К) спектров пропускания наноматериалов в видимой, ближней, средней и дальней ИК областях.
Методики измерения и анализа спектров комбинационного рассеяния с возбуждением спектра в видимой и ИК областях спектра.
Методика выполнения измерения показателя преломления материала в видимой области спектра.
Методика выполнения измерений показателя ослабления светового потока в материалах.
Механические свойства наноматериалов
Методики измерения механических свойств наноматериалов методом индентирования: микротвердости HV, модуля упругости Е и трещинностойкости K1C.
Методики определения микротвердости сверхтонких покрытий методом нано-индентирования.
Методика определения прочности на разрыв и пластичности наноматериала при испытании на разрыв стандартного образца. Испытания на разрыв при повышенных температурах.
Методика определения прочности на изгиб стандартного образца при испытании на изгиб 3-х и 4-х точечным методом. Испытания на изгиб при повышенных температурах (порядка 1000 °С).
Методики адгезионных испытаний – измерения силы адгезионного сцепления покрытия и подложки путем приложения контролируемого разрывающего усилия.
Методика определения износостойкости наноструктурных материалов путем испытания пар трения под нагрузкой по стандартным схемам вал-втулка и палец-плоскость.
Методика измерения внутренних напряжений и искажений кристаллической решетки в наноразмерных объектах и наноматериалах методом рентгеновской дифракции.
Методика испытания на газо- проницаемость мембран путем определения возможных газовых потоков через мембрану, нагруженную перепадом давления газа.
Методики определения характеристик поглощения и аккумулирования механической энергии наноструктурными и нанопористыми материалами при импульсных и вибрационных нагрузках.
Электрические и магнитные свойства наноматериалов
Методики измерения магнитных параметров наноматериалов в широком диапазоне температур и магнитных полей: индукции насыщения, коэрцитивной силы, магнитной проницаемости, гистерезисных потерь, температуры Кюри и др.
Методика изучения магнитной структуры, распределения направлений магнитных моментов кристаллитов в различных состояниях намагниченности.
Методика исследования спектров ферромагнитного резонанса и дисперсионных характеристик спиновых волн тонких магнитных пленок методом радиоспектроскопии.
Методика 4-контактного измерения электропроводности образцов в форме стержней по падению напряжения между парой потенциальных контактов при пропускании тока через пару внешних токовых контактов.
Методика исследования фотопроводимости наноматериалов.
Методики импедансной спектроскопии, в том числе ВАХ, для комплексного исследования проводимости материалов, электролит-электродных наноструктур и полупроводниковых гетероструктур в широком диапазоне частот и значений проводимости, широком диапазоне температур и типов атмосфер.
Ресурсные электрофизические испытания электролит-электродных наноструктур под рабочей нагрузкой.
Методики электрических испытаний стандартных образцов наноматериалов на пробой высоким электрическим полем.
Методика исследования диэлектрических характеристик пленочных наноструктур в широком диапазоне частот.
Методики исследования характеристик магнитоэлектрического взаимодействия в композитных пленочных структурах магнетик- пьезоэлектрик методами квазистатической, гармонической, импульсной и СВЧ модуляции магнитного и электрического полей.
Электрофизические методики для измерения параметров полупроводниковых наноструктур и изделий твердотельной электроники на их основе: глубины залегания p-n- перехода; распределения концентрации легирующих примесей в слоях полупроводников и т.д,
7. Теплофизические свойства
Методики дифференциальной сканирующей калориметрии и термогравиметрии наноструктурных материалов, в том числе совмещенные с масс-спектрометрическим анализом.
Методики измерения температурной зависимости теплопроводности и теплоемкости наноструктурных материалов.
Дилатометрические исследования наноматериалов в широком диапазоне температур с целью определения усадочных эффектов и теплового расширения.
8. Плотность и пористость наноматериалов
Методика определения кажущейся плотности наноматериалов посредством гидростатического взвешивания.
Методика определения насыпной плотности сыпучих наноматериалов посредством взвешивания стандартного объема.
Методики определения пористости наноматериалов: открытой и закрытой.
ПРИЛОЖЕНИЕ В
(обязательное)
Форма заявки на признание компетентности испытательной лаборатории (центра)
№ регистрации ____________
|
“___”___________________200 ___г.
|
ЗАЯВКА
на признание компетентности испытательной лаборатории (центра)
1. Заявитель___________________________________________________________
(полное наименование и адрес организации - соискателя аттестата компетентности)
________________________________________________________________________________
2. Заявляемая область признании компетентности ______________________
(приводится перечень методик выполнения измерений и испытаний)
________________________________________________________________________________
________________________________________________________________________________
________________________________________________________________________________
3.Сведения об аккредитации или признании компетентности _________
(приводятся подробные сведения о признании
________________________________________________________________________________
организации в других системах аккредитации)
4. Другие сведения ________________________________________________
(по усмотрению заявителя)
________________________________________________________________________________
5. Реквизиты заявителя _____________________________________________
(сведения о расчетном счете,
___________________________________________________________________________
другие сведения для проведения расчетов)
6. Ориентировочный срок проведения признания компетентности организации в период
с «_____» _______________ ______ г. по «_____» ________________ ______ г.
Приложения: ___________________________________________________________________________
(перечисляются документы, которые направляются одновременно с заявкой: положение об Испытательном центре, паспорт Испытательного центра, методики выполнения измерений и испытаний, др. документы, подтверждающие компетентность)
Руководитель организации ____________ _____________________
(подпись) (инициалы, фамилия)
Главный бухгалтер ______________ ___________________________
(подпись) (инициалы, фамилия)
М.П.
(обязательное)
УТВЕРЖДАЮ
Руководитель испытательной
лаборатории ( центра)
_____________ ___________________
(подпись) (фамилия, инициалы)
«___»______________ _____г.
ПАСПОРТ
________________________________________________________________________________ наименование испытательной лаборатории (центра)
1 Данные об испытательной лаборатории ( центре ):
Полное наименование организации ___________________________________________
Сокращенное название организации ___________________________________________
Адрес:___________________________________________________________________________________
индекс, область, район, населенный пункт, улица, дом
Тел.:_____________Факс:__________ Е-mail ________ Web- site_____________
Ф.И.О. руководителя организации (полностью), ученая степень: ___________________
___________________________________________________________________________
Тел.:______________Факс: _________ Е-mail: ___________ Web- site___
2 Данные об учредителе (учредителях)
Полное наименование организации ___________________________________________
Сокращенное название организации ___________________________________________
Адрес:___________________________________________________________________________________
индекс, область, район, населенный пункт, улица, дом
Тел.:_____________Факс:__________ Е-mail ________ Web- site_____________
Ф.И.О. руководителя организации (полностью), ученая степень: ___________________
___________________________________________________________________________
Тел.:______________Факс: _________ Е-mail: ___________ Web- site___
3 Перечень необходимой документации испытательной лаборатории ( центра)
Наименование и
обозначение документа
|
Область
распространения
|
Срок
действия
|
Место расположения
в испытательной лаборатории (центре)
|
1
|
2
|
3
|
4
|
Примечание. В данный перечень включаются законодательные и иные нормативные правовые акты, регламентирующие деятельность испытательной лаборатории в соответствии с областью признания компетентности .и другие документы.
4 Виды измерений, проводимых испытательной лабораторией (центром)
Наименование методов или методик измерения
|
Нормативно-техническая документация на гигиенические нормативы условий труда
|
Нормативно-техническая документация на методы
измерений
|
1
|
2
|
3
|
5 Оснащенность средствами измерений (СИ)
Наименование измеряемых параметров ,методов или методик измерения
|
Наименование СИ, тип (марка), заводской
инвентарный номер, год выпуска
|
Изготовитель (страна, предприятие, фирма)
|
Диапазон измерений
|
Класс точности, погрешность измерений
|
Год ввода в эксплуатацию, инвентарный номер
|
Дата, № свидетельства о поверке, периодичность
|
1
|
2
|
3
|
4
|
5
|
6
|
7
|
6 Кадровый состав работников
Ф. И. О.
|
Должность
|
Образование
|
Вид
деятельности
|
Наличие сертификата (свидетельства)
|
Сведения об аттестации
|
1
|
2
|
3
|
4
|
5
|
6
|
Примечания:
1. В графе 4 приводятся виды выполняемых измерений, а также сведения о работниках, ответственных за актуализацию нормативно-технической документации, делопроизводство и ведение архива, за метрологическое обеспечение (поверку средств измерений) и т.д.
3. В графе 5 приводятся: № свидетельства эксперта по сертификации или сведения о подготовке и повышении квалификации и т.д.
Гарантируем достоверность предоставляемой информации и подтверждаем право ГК «Роснанотех» запрашивать у нас, в уполномоченных органах власти и у упомянутых в нашей заявке юридических и физических лиц информацию, уточняющую представленные нами в заявке сведения, в том числе сведения о соисполнителях.
Подпись руководителя: _________________________________________
М.П.
Приложение Д
(рекомендуемое)
Требования к построению, содержанию, изложению и оформлению методик выполнения измерений
Документ на методику выполнения измерений (далее - МВИ) должен содержать титульный лист с наименованием МВИ, вводную часть и разделы в последовательности, приведенной ниже. Построение, изложение, оформление и содержание МВИ должны быть выполнены с учетом ГОСТ Р 1.5 и ГОСТ Р 1.4-2004. Ниже приведены требования к построению, содержанию, изложению и оформлению МВИ, разработанные с учетом вышеуказанных стандартов.
1 Наименование методики
Наименование МВИ должно полно и ясно отражать ее назначение и сущность. Пример оформления титульного листа в соответствии с приложением Ж.
В наименовании МВИ указывают
- наименование объекта или группы объектов испытаний
- наименование определяемого свойства или параметра
- вид испытаний
2 Во вводной части МВИ указывают :
назначение и область применения МВИ
метод испытаний и краткое описание физико-химических принципов, положенных в основу испытаний
определяемые характеристики свойств или параметры
диапазоны значений величин определяемых характеристик или параметров
ограничения применения методики
3 Показатели точности:
В разделе приводят значения показателей точности ( характеристик погрешности испытаний) и при необходимости значения составляющих погрешности. Показатели точности указывают для диапазона значений определяемых характеристик в котором они установлены
4 Условия испытаний:
В разделе приводят описание условий испытаний, перечень факторов,
характеризующих эти условия, значения ( диапазон значений) их величин, требования к точности их поддержания. Средства измерений, контролирующие условия испытаний и их метрологические характеристики приводят в разделе ‘Средства испытаний”.
5 Образцы для испытаний:
В разделе приводят описание образца для испытаний (ОИ ), его параметров и характеристик. В случае необходимости указывают технологические режимы отбора ОИ. Способ и правила проведения измерений характеристик ОИ и правила обработки и вычисления результатов измерений.
7 Средства испытаний:
В разделе приводят полный перечень приборов, установок, приспособлений, инструментов, посуды, реактивов и материалов, необходимых для выполнения испытаний, измерений и вычислений.
Текст, относящийся к каждому средству испытаний, рекомендцерся выделять в отдельный пункт или подпункт.
В перечне средств измерений наряду наименованием указывают метрологические характеристики. Допускается указывать тип, марку, модификацию, обозначение нормативных документов ( НД ).
Если средства испытаний не изготовлены серийно и (или) разработаны специально для данной МВИ, то приводят ссылку на НД , по которой они могут быть изготовлены.. При отсутствии НД приводят более подробное описание средств испытаниями.
8 Требования безопасности.
В разделе приводят специфичные для данной МВИ правила соблюдения техники безопасности.
9 Требования к квалификации персонала
Раздел должен содержать требования к уровню квалификации (профессия, разряд и т.д.) лиц, допущенных к выполнению испытаний на всех стадиях. Если трбования к квалификации лиц, допущенных в выполнению испытаний специально не оговариваются, то данный раздел можно исключить
10 Выполнение испытаний
В разделе указывают операции в порядке их выполнения. При необходимости указывают критерии, определяющие качество выполнения отдельных операций;
11 Проведение измерений, вычислений и обработка результатов испытаний
В разделе приводят алгоритмы обработки данных испытаний, включающие;
- алгоритмы нахождения оцениваемых характеристик ОИ:
- алгоритмы преобразования данных к виду, предусмотренному правилами
принятия вывода или заключения о ходе испытаний
- правила принятия решения о результате испытания
- указывают алгоритм контроля точности для проверки применимости МВИ и устанавливают срок и (или) период контроля.
Примечание – Допускается объединять некоторые разделы или исключать разделы, не влияющие на показатели точности МВИ.
Приложение Е
(обязательное)
Форма титульного листа методики выполнения испытаний
НАИМЕНОВАНИЕ ОРГАНИЗАЦИИ РАЗРАБОТЧИКА
СОГЛАСОВАНО УТВЕРЖДАЮ
Руководитель Испытательного Зам. Генерального директора
Центра ГК “ГОСНАНОТЕХ ”
Малышев А.Б
НАИМЕНОВАНИЕ МЕТОДИКИ ВЫПОЛНЕНИЯ ИСПЫТАНИЙ
( ИЗМЕРЕНИЙ )
РАЗРАБОТЧИКИ
_____________________ __________ ____________________
должность, научное звание подпись ф.и.о.
_____________________ __________ ____________________
должность, научное звание подпись ф.и.о.
Москва, 2008 Страница
|
